| 加工定制 | 否 | 型号 | XULM/XDL-B |
|---|
| 类型 | 金属元素分析仪器 | 测试范围 | 金属元素 |
|---|
| 测量时间 | 自己调整 | 测量精度 | 误差不大 |
|---|
| 电源电压 | 220V\HZ | 适用范围 | 金属元素 |
|---|
| |
|---|
Fischerscope X-RAY XUL除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金层中各元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金属离子的浓度也是十分简单。 XUL 是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计。此仪器是采用能量散射X-射线荧光测量原理，符合国际DINENISO3497及ASTM B568标准来进行非破坏及不接触的测量。XAN-DDP X-射线光谱分析是透过次级辐射所产生的不同能量特性来辨认元素；其原理是由X-射线管产生初级X-射线荧光照射在受检物质表面上时，元素的电子层内的电子将被激发，而因为能量的原因；一连串的电子补充到被激发的电子“空档”。由于能量的改变，特定的元素便会产生特定的辐射，再用半导体或其他合适的比例接收器来收集辐射讯号，从能量及强度的大小进行分析便可以识别元素及进行定量分析了。 本公司专业维修膜厚仪X光管更换 还可为客户测试对比样品 出售/回收二手FISCHER膜厚仪等等锦霖公司
