| 加工定制 | 否 | 型号 | XULM/XDL-B |
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| 类型 | 金属元素分析仪器 | 测试范围 | 金属元素 |
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| 测量时间 | 自己调整 | 测量精度 | 误差不大 |
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| 电源电压 | 220V\HZ | 适用范围 | 金属元素 |
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XULM-XYM菲希尔(FISCHER)膜厚测试仪测量电镀、蒸镀、离子镀 沉金等各种金属镀层的厚度，它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。强大的WINFTM软件加上最精准的FP数学测量方法,使同行业无法比美,锦霖在中国大陆华南区独家代理菲希尔/膜厚仪,主营XDL XUL XAN XDLVP系列．菲希尔/膜厚仪，此仪器特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层．深圳锦霖以最优的服务．为您提供最佳的解决方案菲希尔XuLM膜厚测试仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们锦霖公司始终的目标.
